红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器、信号处理、显示和输出等部分组成。光学系统在其视场内收集目标的红外辐射能量，视场的大小由光学部件和温度计的位置决定。红外能量聚焦在光电探测器上，并转换成相应的电信号。

　　信号经过放大器和信号处理电路根据仪器内部的算法计算并修正目标的发射率后，转换成被测目标的温度值。此外，还应考虑目标和温度计的环境条件，如温度、大气、污染、干扰等对性能指标的影响和修正方法。

　　红外测温仪用于测量物体的表面温度。温度计的光学元件的发射、反射和透射能量会聚在探测器上，温度计的电子元件将该信息转换成温度读数，并将其显示在温度计的显示面板上。红外测温仪显示的温度常被称为目标的亮温，与物体的真实温度不同，因为物体的发射率对辐射测温有一定的影响，自然界中的实际物体几乎都不是黑体。

　　所有物体的实际辐射量除了辐射波长和物体的温度外，还与物体的材料种类、制备方法、热过程、表面状况、环境条件等有关。因此，为了使黑体辐射定律适用于所有实际物体，有必要引入一个与材料性质和表面状态有关的比例系数，即发射率。

　　该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在0到1之间。根据辐射定律，一旦知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。

　　红外测温系统由以下几部分组成:远红外透镜和滤光系统、测试装置、A/D转换器、微处理器(单片机)和终端显示器。