红外测温仪由光学体系、光电探测器、信号放大器及信号处理、显现输出等部分组成。光学体系汇集其视场内的方针红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件以及方位决议。红外能量聚焦在光电探测仪上并转变为相应的电信号。

　　该信号通过放大器和信号处理电路按照仪器内部的算法核算和方针发射率校对后转变为被测方针的温度值。除此之外，还应考虑方针和测温仪地点的环境条件，如温度、气氛、污染和干扰等要素对性能指标的影响及批改方法。

　　红外测温仪用来测量物体外表温度，测温仪的光学元件发射的、反射的以及透过的能量会聚到探测器上，测温仪的电子元件将此信息转换成温度读数并显现在测温仪的显现面板上。红外测温仪显现的温度常称为方针的亮度温度，与物体真实温度有此差别，由于物体发射率对辐射测温有一定的影响，自然界中存在的实践物体，简直都不是黑体。

　　一切实践物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的资料品种、制备方法、热过程以及外表状况和环境条件等要素有关。因此，为使黑体辐射规律适用于一切实践物体，有必要引进一个与资料性质及外表状况有关的比例系数，即发射率。

　　该系数表示实践物体的热辐射与黑体辐射的挨近程度，其值在0到1之间。根据辐射规律，只需知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。

　　红外测温体系由以下几部分组成：远红外透镜及滤光体系、测验装置、A/D转换器、微处理机（单片机）和终端显现组成。结合红外测温的工作原理及实践操作的需要，进行了相关参数的核算和论证，在确认方案可行的情况下，然后得出远红外测温仪体系的原理。